1.CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程, l1 [& u, [" C$ Q- S( L9 B; P
CPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；: \% O+ ^7 k: Q# N: ^6 P
2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
, A3 a; Z& ^ l/ g ?3 X- ZC系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。) ?6 d4 Y# }, J
3.PPK是短期的过程能力，适合于试生产过程，确定上下控制线，进行现场控制
) |5 g6 V p- w' l) c4 ] w% KPPK是QS9000提出的一个新概念，物理含义是不论分布在公差范围内任何位置，它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL，取两者之间最小的一个，就是PPK
8 g: \, b# N6 Z# Q& j4.CMK也是短期的过程能力指数，是针对设备能力的，主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定，它是vda的要求
9 |" _5 b% e& t1 U* Q- k- c# HPPK：短期能力指数，一般是在过程的初期计算，因为这个时候的过程受到人、机、料、法、环的特殊原因影响，导致过程不稳定。这个时候的首要任务是让过程稳定下来，因此此时应连续监控过程或在较短时间内分组来监控过程，计算出来的能力指数就是PPK。I
" D; Z, S8 `6 c* D2 ?* e( ICPK：长期能力指数，该指数必须是在过程人、机、料、法、环、测都稳定的情况下计算，也就是在初始研究后，你的控制图显示过程要受控后，方可开始研究CPK。这个时候分组的时间间隔应该较长，以反映过程在较长时间内的误差（也就是子组之间的误差），应当忽略在较短时间内抽样的误差（也就是子组内的误差）。+ `% F* S2 V# t5 P0 D+ ?) `! t
ACMK：设备能力指数，跟PPK有相似之处，不同的在于它侧重反映设备满足特性的程度，要求必须将人、料、法、环标准化，只反映设备的影响。因此它的抽样一般是短时连续抽样，以排除人员、材料、加工方法和环境的影响，通常CMK中包含了测量系统的变差。5 c8 O4 U. l R9 z
计算PPK时，西格玛应按照统计学上定义的标准差计算方法进行计算，以反映抽样样本的整体标准差。 |
楼主: jnjl
发表于 2008-11-25 15:44:06
学习了，还望大侠们把PPK ，CPK 等参数的计算公式分享一下。
