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楼主: 鸣_westmac
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如何用三坐标校正数显卡尺(内测量面)?

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11#
发表于 2008-4-9 14:28:41 | 只看该作者
呵呵呵,你倒不如用卡尺随便测量一个东西然后再用三坐标测量比对一下看看,卡尺要和三坐标放在一起。有条件保证标准环境的话,还不如上面各网友说的直接用量块。你那个办法三坐标操作者也很累的,先固定卡尺的测量面,再固定卡尺本身,而且卡尺工作的时候多是以一个小面接触,你用三坐标还要评定面本身的误差,太累了
12#
发表于 2008-4-9 15:07:15 | 只看该作者
规程上规定用外径千分尺可以检测内测量面的尺寸。个人认为是否也可以用标准环规检测呢?
13#
楼主 | 发表于 2008-4-13 01:18:24 | 只看该作者
我打算放弃用三坐标校正,觉得量块也不是很方便,o! E; K5 |7 E2 Q; m! @6 Z% m/ p9 x
正好有个精密高度仪,相信应该挺方便的.....
14#
发表于 2008-4-13 07:56:04 | 只看该作者
原帖由 鸣_westmac于 2008-4-13 01:18 发表 9 c% _. W1 M! k
我打算放弃用三坐标校正,觉得量块也不是很方便, 0 u3 Q1 t+ B F7 f& J( b
正好有个精密高度仪,相信应该挺方便的.....

7 V/ J% m: v+ L( x; z' I* \" v有可能找正更麻烦
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