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楼主: dyq711
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两个相互干扰的形位公差该怎么测量

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11#
发表于 2016-8-29 06:49:33 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36
5 g! r5 a) t9 \! Y: e, X举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...
2 {  g) `+ u# S+ K7 K
楼主看了五楼的发言了吗?独立原则啊,平面度测平面度的,平行度测平行度的,不用混为一谈的- s9 |. C4 p3 O4 v5 o3 y% O! W
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12#
发表于 2016-8-29 06:52:33 | 只看该作者
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:49- p/ L8 h7 g% {0 y
楼主看了五楼的发言了吗?独立原则啊,平面度测平面度的,平行度测平行度的,不用混为一谈的
% X+ ?* W1 k' e8 s6 |
而且两种公差的测量方法不同,只要各自保证满足各自的公差要求即可。/ g; \; \9 S2 F; k, N
想到了邓的不管白猫黑猫能抓老鼠的就是好猫
# j) {' Y- y7 n; s" f" I不管两组或多组公差如何相互影响,只要保证各自的公差满足图纸要求便可以认为合格
. k2 w* {4 q/ j, b' E
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13#
发表于 2016-8-29 11:50:24 | 只看该作者
我也来学习
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14#
 楼主| 发表于 2016-8-29 20:14:57 | 只看该作者
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:52
5 s& x: e& X$ ?; ]6 x6 X: r. F/ z8 @. R而且两种公差的测量方法不同,只要各自保证满足各自的公差要求即可。1 t! c4 K; E/ N; w
想到了邓的不管白猫黑猫能抓老鼠的 ...

! @. Y+ t1 w: B! `& {9 u* T4 A! r8 h: T那是不是测平行度的时候确实有平面度的影响,只不过不考虑平面度
  r2 Y- l& z3 s( X
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15#
发表于 2016-8-29 22:19:47 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36* K4 S; {  G/ ^/ z
举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...
4 ?, q$ l# i; l* R! Y- |; s
就拿你图示的这个例子来说:平行度的概念是:从底面向上移动一个理想的、平行于底面的平面,直到与顶面第一点接触,记录这时的高度,平面继续向上移动,直到与顶面最后一个点接触,记录第二个高度,两个高度的差,即为顶面对底面的平行度误差。测顶时,1、将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面,实际上,这两个面只有三点真接触),2、在顶面取n点打表测量高度,% K4 {! r3 J. p5 C: t3 F9 r' O
3、最大高度-最小高度=测得的平行度误差。, t8 q% y- G4 C+ w9 V
% I5 p! Z8 U8 i" ]
平面度的概念是:用一个理想平面去靠被测平面,或者反过来,把被测平面放在理想平面上,可以想象,实际上不平的被测平面会有凹凸,如果凸向与平面接触,这种接触不稳定,这时反过来,从凹向接触理想平面,得到稳定的接触,再做第二个理想平面,平行于前一个,与被测平面的最高点接触,两理想平面间的距离为测得的平面度。实际可能出现多个稳定接触的情况,理论上给出的原则是:最大最小,即,按前述方法,逐个测量,测量过程以最大高度为测量平面度,最后取所有测量平面度中的最小的一个作为这个被测表面的平面度。. y5 u& y5 y. e' j3 G8 i
9 A3 @. X; N1 D- \. Z# c# }# _+ u  V
回到你的这个例子上,实际测量时比较常用的方法是:一条边的两个顶点和对边的中点,用精密千斤顶顶起,千分表或百分表与千斤顶配合,使三点等高,再在顶面上移动测量表,测到最高点和最低点,高度差即为平面度。
7 r. `6 d. M4 S4 e# U6 ^9 _( R0 j( u  f9 M, j4 C/ K$ f
应该能想明白:一般来说,测出的平面度小于平行度。7 z+ C+ @( ^# a4 O) [- Q8 X# A
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16#
 楼主| 发表于 2016-8-29 22:33:37 | 只看该作者
oldpipe 发表于 2016-8-29 22:19
8 r+ w) o2 o3 N' v& a就拿你图示的这个例子来说:平行度的概念是:从底面向上移动一个理想的、平行于底面的平面,直到与顶面第 ...
2 j5 }- T8 \8 {% b) f/ A- Q; B
那在测平行度的时候怎么找这个理想的平面# P2 `: i8 ~# _/ p) {3 Z) R7 w

点评

……将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面……  详情 回复 发表于 2016-8-29 23:20
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17#
发表于 2016-8-29 23:20:03 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-29 22:33) W2 U5 T$ f* G8 A" @" P
那在测平行度的时候怎么找这个理想的平面

# g, G% ]9 P8 r/ I……将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面……* l* N' }5 c6 C/ M- M
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18#
发表于 2016-9-18 14:11:20 | 只看该作者
寂静天花板 发表于 2016-8-28 12:09
7 E8 s  B1 U6 I: ^两个圆孔有同轴度公差要求,怎么还会有两个圆孔的垂直度要求

8 M+ h$ I8 u0 ~同问" T, s. W9 d+ {& H
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19#
发表于 2016-12-9 13:31:45 | 只看该作者
有很多情况往往就是做基准的部位本身形状公差误差就大,反过来要去要求另一个要素的位置公差。这个本身就是不合格的东西再怎么测都没用的。需要精修测量基准才行
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20#
发表于 2018-7-11 16:23:28 | 只看该作者
我又来赚威望啦!!!
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