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楼主: dyq711
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两个相互干扰的形位公差该怎么测量

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11#
发表于 2016-8-29 06:49:33 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36
3 ^* {* m+ Q) m' }举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...

0 T7 n5 O3 j' y. G# W0 z+ L楼主看了五楼的发言了吗?独立原则啊,平面度测平面度的,平行度测平行度的,不用混为一谈的
4 P6 t6 |; _7 F
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12#
发表于 2016-8-29 06:52:33 | 只看该作者
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:49
7 }% M; k* F2 R  }" R. f: j) {' G  i* Z楼主看了五楼的发言了吗?独立原则啊,平面度测平面度的,平行度测平行度的,不用混为一谈的

- t9 k' j: b) i: V( z" h而且两种公差的测量方法不同,只要各自保证满足各自的公差要求即可。- X# ^' l5 b) G8 ]  u
想到了邓的不管白猫黑猫能抓老鼠的就是好猫
, D! r  |) f" P! B  n不管两组或多组公差如何相互影响,只要保证各自的公差满足图纸要求便可以认为合格
9 T1 q  e% _! u) u. I- _
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13#
发表于 2016-8-29 11:50:24 | 只看该作者
我也来学习
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14#
 楼主| 发表于 2016-8-29 20:14:57 | 只看该作者
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:520 N" \  \6 E! M; R  M  I1 g
而且两种公差的测量方法不同,只要各自保证满足各自的公差要求即可。  V0 w+ W" c* T' c# O  p- W
想到了邓的不管白猫黑猫能抓老鼠的 ...

- G& o( D0 D! J0 o. x% \$ h那是不是测平行度的时候确实有平面度的影响,只不过不考虑平面度$ _, t$ t( s8 t$ F: p; h4 k3 F' Y
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15#
发表于 2016-8-29 22:19:47 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36% |" M( a$ B0 H4 A
举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...

. ?1 u4 w+ s9 G) C8 D& q0 S5 S就拿你图示的这个例子来说:平行度的概念是:从底面向上移动一个理想的、平行于底面的平面,直到与顶面第一点接触,记录这时的高度,平面继续向上移动,直到与顶面最后一个点接触,记录第二个高度,两个高度的差,即为顶面对底面的平行度误差。测顶时,1、将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面,实际上,这两个面只有三点真接触),2、在顶面取n点打表测量高度,( F# u6 k7 W! I" _
3、最大高度-最小高度=测得的平行度误差。
2 Y' l( m0 v/ O# X* v5 K8 |. V6 C2 s( w: c% S/ F; U
平面度的概念是:用一个理想平面去靠被测平面,或者反过来,把被测平面放在理想平面上,可以想象,实际上不平的被测平面会有凹凸,如果凸向与平面接触,这种接触不稳定,这时反过来,从凹向接触理想平面,得到稳定的接触,再做第二个理想平面,平行于前一个,与被测平面的最高点接触,两理想平面间的距离为测得的平面度。实际可能出现多个稳定接触的情况,理论上给出的原则是:最大最小,即,按前述方法,逐个测量,测量过程以最大高度为测量平面度,最后取所有测量平面度中的最小的一个作为这个被测表面的平面度。
! w% H2 _! w& M  l0 E' w, m; M
% F0 k* c8 T9 O( |& p回到你的这个例子上,实际测量时比较常用的方法是:一条边的两个顶点和对边的中点,用精密千斤顶顶起,千分表或百分表与千斤顶配合,使三点等高,再在顶面上移动测量表,测到最高点和最低点,高度差即为平面度。
7 X& X* J6 C0 z
! x  |/ ~0 X& s应该能想明白:一般来说,测出的平面度小于平行度。# f# U2 u" J" K- G; B
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16#
 楼主| 发表于 2016-8-29 22:33:37 | 只看该作者
oldpipe 发表于 2016-8-29 22:193 f0 e& }; U8 d* K' l* M% Z; u" h
就拿你图示的这个例子来说:平行度的概念是:从底面向上移动一个理想的、平行于底面的平面,直到与顶面第 ...
* s& U- c* @8 K% Y# N4 X
那在测平行度的时候怎么找这个理想的平面
/ z: r! K4 f. W$ l, @

点评

……将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面……  详情 回复 发表于 2016-8-29 23:20
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17#
发表于 2016-8-29 23:20:03 | 只看该作者
dyq711 发表于 2016-8-29 22:33
$ y/ _  M: l% D% b那在测平行度的时候怎么找这个理想的平面
4 H4 b: v- X* ~( C6 G$ H
……将底面放在测量平板上(这时认为底面和平板为理想平面……1 r/ D1 f2 L7 j' R
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18#
发表于 2016-9-18 14:11:20 | 只看该作者
寂静天花板 发表于 2016-8-28 12:09
" {; v, E  s8 T两个圆孔有同轴度公差要求,怎么还会有两个圆孔的垂直度要求
; X2 C7 V3 u# z
同问
" P# I! a$ d( v8 f$ Q2 b) }1 {
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19#
发表于 2016-12-9 13:31:45 | 只看该作者
有很多情况往往就是做基准的部位本身形状公差误差就大,反过来要去要求另一个要素的位置公差。这个本身就是不合格的东西再怎么测都没用的。需要精修测量基准才行
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20#
发表于 2018-7-11 16:23:28 | 只看该作者
我又来赚威望啦!!!
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