无损探伤工艺评定怎么做？

王力wangli

无损探伤工艺评定怎么做？
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谢谢。

大陆架

探伤工艺的评定 丁老师及各位前辈好： 我单位最近在接受API换证审核，审核人员提出了
# b. s! k9 I U, r/ H无损检测作为一个特殊过程，对特殊过程中的再确认中对无损检测工艺有没有做评定。以前从来没有接触到这个问题，所以想问问各位老师，对无损检测工艺是不是需要做评定，如果需要，这个评定又该如何做，应该包含哪些东西？ 丁：当然需要进行工艺评定，不过在国内未得到重视而已！ 具体的方法，与采用的检测方法、技术、评定的标准要求有关，一言难尽呀！ 问：这是我自己做的一个评定表，还要附磁探设备的鉴定证书，提升力试块的鉴定证书以及磁粉的鉴定证书和提升力的校准记录。请丁老师看看有什么不妥的地方需要修改。 丁：作为评定，一定得有评定依据和检测对象的相关信息。 但，一般体系审核注重有无资料，不太重视资料的正确性。 问：您所说的评定依据该怎么理解？是采用的标准还是？ 丁：是评定过程中引用的标准，包括方法标准、产品制造规范和可能的验收规范。 问：方法标准和制造规范可以实施，但是这个验收规范怎么去评定，麻烦您给讲一下！ 丁：应达到的检出率和误报率及检测工艺的可靠性POD。 无损检测广义可靠性及其研究方法 文章链接：中国化工仪器网 http://www.chem17.com/Tech_news/Detail/338731.html :NDT狭义可靠性 传统理论描述的NDT可靠性，定性地说是指无损检测系统对缺陷的检验能力，从定量角度出发，它通常以缺陷探测概率POD来衡量。 显然，单纯运用POD来衡量的NDT可靠性，是值得商榷的。将缺陷检出来，是讨论检测结果可靠与否的前提条件，磁粉探伤仪其次，还应考虑被检出的缺陷尺寸与缺陷真实尺寸之间相对应的程度，即检测精确度。为此，笔者对常规NDT可靠性的定义进行了修正，提出了狭义可靠性的概念，它可以定量地表达为缺陷检出概率尸与缺陷检测精确度的平均值S的乘积，它们通常都是缺陷尺寸的函数，即借助于NDT可靠性试验并对其结果进行统计分析后表明，用衡量的NDT狭义可靠性比POD更加能够反映NDT系统的某种不确定性，因此也更加接近实际情况。然而，式中所反映的NDT可靠性，是在特定的检测环境下检测人员运用某种特定的NDT系统对给定尺寸缺陷的检测结果，所体现的只是NDT系统的检测能力，显然它只能是一种狭义的可靠性。 从更广泛意义上说，NDT的可靠性除了检测系统本身的能力之外，更重要的还在于对这种能力的运用、把握和控制，是NDT综合质量的体现。因此，有必要进行更加深入的研究工作。 2:NDT广义可靠性 检测系统的能力只能反映NDT可靠性的一个方面。试想，即便某检测系统具备非常强的检

测能力，如果不将它用在适当的场合，当然不会取得期望种特性的综合体现，即①NDT方法对缺陷的检测能力(狭义可靠性)。②NDT方法的适用性及可操作性。⑧运用NDT方法的正确性。④对缺陷判定的准确性。⑤记录、报告的完整性及追溯性。⑥对检测过程的控制能力等。 NDT可靠性体现了NDT应用的综合质量，它受到一系列因素的综合影响，如检测方法本身、检测对象情况、缺陷特征、仪器设备、检测少．员以及检测环境等，这里，我们将它称为NDT的广义可靠。 如果单独考虑某检测方法对给定大小缺陷的检测能力，就回到了狭义可靠性的范畴。 当然．要获得的确切量值往往是十分困难的，一方面是它的影响因素众多，较难作出全面的考虑，另一方面还磁粉探伤仪在于有些因素对检测质量的影响具有某种模糊色彩。比如说，检测工作的实施以及对诸多困索的分析和控制在一定程度上取决于检测人员的个人判断和实践经验，带有较多的主观因素，具有模糊不确定性。另外，NDT广义可靠性还涉及到检测过程中的一系列因素，具有动态色彩．因此NDT广义可靠性不是也不应该是一个恒定的量值。 3：对NDT广义可靠性研究的策略 NDT广义可靠性研究的目的和内容，可以简要地归纳为正确地识别检测过程中各类不确定因素的来源，并把它们数量化；研究各类不确定因素对检测可靠性的影响；对各类不确定因素进行控制．以减少它们对检测可靠性的不利影响；以及提高NDT 广义可靠性的途径。 以上内容有些是互相交叉的，其中最主要内容就是对不确定因素进行定性分析和定量研究。很碾然，定性分析是定量研究的基础，而定量研究的结果更反过来指导定性分析。NDT广义可靠性涉及到许多模糊的不确定因素，许多条件很难限定甚至很难界定。因此无法完全依赖可靠性试验得出确切结论。为此，必须采取相应的的研究策略和方法。磁粉探伤仪 检测事件树分析法、模糊综合评判法以及可靠度类比分析法，都是NDT广义可靠性分析的有效手段，能够比较好地解决系统多指标的综合问题，在研究中也取得了成功。 4：事件树分析方法 NDT的广义可靠性体现了NDT的综台质量，受到一系列不确定因素的综合影响。正确地识别各类不确定因素的来源，是NDT可靠性研究的内涵之一。常用的研究方法有事件树分析法和层次分析法等，基本原理都大同小异，目的在于建立影响NDT的广义可靠性的因素集合．以便于最终对其进行洋价。 为此，首先需要确定影响检测质量的主要因素。然后．通过分解目标或进一步追寻下一层次的影响因素的方法，逐层形成影响检测质量指标的因素集。对目标的一次分解还不能达到要求，可将其再进行分解，如果还磁粉探伤机不能满足要求，仍可继续分解下去，最终形成指标因素集，即事件树。当然，如果事件树的分支过多．即因素分解的层次过多，由于误差的传递等因素的影响，最终会影响以后所进行评价工作的可信度。一般说，因素集的确定应依据如下原则把影响检测质量的因素中抽象的、笼统的目标具体化。 (1)完备性即因素集能够客观、全面地反映评价检测质量的要求。 (2)独立性各因素必须是互相独立的。 (3)一致性能够充分反映评判的目标，即其指标要与检测质量一致。 事件树分析方法能够便捷地用来对NDT、广义可靠性的影响因素进行全面的分析。进而建立内素集和因素间的隶属关系，它是定量分析的基础，也是将来进行NDT质量控制的基础。 文章链接：中国化工仪器网 http://www.chem17.com/Tech_news/Detail/338731.html

王力wangli

你好，你弄过API认证的资料吗？

王力wangli

大陆架 发表于 2016-1-7 09:20
) O+ N r2 ~$ U' z" q! S! b$ o! ?探伤工艺的评定 丁老师及各位前辈好： 我单位最近在接受API换证审核，审核人员提出了
0 A |% R* H8 F5 |1 {+ s6 J无损检测作为 ...

你好，你做过API认证吗？给我指导一下！

王力wangli

大陆架 发表于 2016-1-7 09:20
探伤工艺的评定 丁老师及各位前辈好： 我单位最近在接受API换证审核，审核人员提出了
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% q5 G/ W* Y( @* y5 Q/ A把你的工艺评定给我发一个，谢谢！

luorex

受教了，谢谢楼主！