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CMM测量之扫描简述,一点拙见

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1#
发表于 2009-5-11 22:15:07 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
CMM扫描测量的一个前提条件是CMM要配备扫描探头,测量目的是在短时间内采集大量的点。一般情况下,对于圆度、直线度、平面度、轮廓度等形状公差可以用CMM扫描测量。当然,碰到高精度的零件,还是要用专业的圆度仪来测量圆度、直线度、圆柱度等。CMM扫描测量可以更好的的从宏观上去认识零件,寻求元素的特性。
+ T# x1 K9 p% D* V# a+ i  `4 B" ICMM扫描测量的另一用途是对于未知轮廓的探究。
2 r+ D0 P% |: \3 c" w. o2 V! D当然,CMM扫描测量是涉及较深的、知识面广(如高速扫描时对仪器数据可靠性的修正、数据的滤波等),以上仅是一点点拙见。
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2#
发表于 2009-5-13 06:25:49 | 只看该作者
希望多发表些类似的知识让我们学习学习 顶一下
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