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1. CPK是长期的过程能力,适合于批量生产过程 8 R' ^0 W! W' v! JCPK是有偏移情况下的过程能力指数,产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用; , B0 ^) j6 G$ B8 I2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力,CP越大,质量能力越强,有偏移时,CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况,CPK越大,两者偏离越小,表示的是质量能力与管理能力的综合结果。$ w0 \0 j: o$ y1 \) U C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数,P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数,使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态,而不要求在稳态下才可以进行计算。 0 j; S7 S- ]0 {! @3. + x" r; h% t& [1 j1.CPK是长期的过程能力,适合于批量生产过程 6 c6 ?1 V2 u6 ] y( X/ BCPK是有偏移情况下的过程能力指数,产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用;Q6 n; o) ?& `1 e2 G 2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力,CP越大,质量能力越强,有偏移时,CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况,CPK越大,两者偏离越小,表示的是质量能力与管理能力的综合结果。# \: U* w8 G4 B: v8 Y- O$ x# v: @, [8 V C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数,P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数,使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态,而不要求在稳态下才可以进行计算。* d- Q+ _: `! f% I! T8 J 3.PPK是短期的过程能力,适合于试生产过程,确定上下控制线,进行现场 控制; ]* _" q- q/ K9 P% V5 r) I' J PPK是QS9000提出的一个新概念,物理含义是不论分布在公差范围内任何位置,它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL,取两者之间最小的一个,就是PPK , u0 k7 a% F$ b4.CMK也是短期的过程能力指数,是针对设备能力的,主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定,它是vda的要求8 {5 Q" E7 @# P" U7 R! s PPK:短期能力指数,一般是在过程的初期计算,因为这个时候的过程受到人、机、料、法、环的特殊原因影响,导致过程不稳定。这个时候的首要任务是让过程稳定下来,因此此时应连续监控过程或在较短时间内分组来监控过程,计算出来的能力指数就是PPK。I5 S3 i4 g8 ~8 J Y0 y# M CPK:长期能力指数,该指数必须是在过程人、机、料、法、环、测都稳定的情况下计算,也就是在初始研究后,你的控制图显示过程要受控后,方可开始研究CPK。这个时候分组的时间间隔应该较长,以反映过程在较长时间内的误差(也就是子组之间的误差),应当忽略在较短时间内抽样的误差(也就是子组内的误差)。 ) u7 ~4 Z5 m* ?7 t; T* g i4 V8 Q7 ZACMK:设备能力指数,跟PPK有相似之处,不同的在于它侧重反映设备满足特性的程度,要求必须将人、料、法、环标准化,只反映设备的影响。因此它的抽样一般是短时连续抽样,以排除人员、材料、加工方法和环境的影响,通常CMK中包含了测量系统的变差。" s% W$ ]# h$ }+ H 2。 6 {% E' Z& X' n) H9 TPPK:是按每100万产品的概率来推算的,即是在按100%的基础上来推导到每100万产品的过程能力.所以过多的体现在六西格玛的领域.从我个人的理解来说PPK是在无偏移的情况下的每100万产品中来计算的过程能力.并不是初期的过程能力,在过程不受控的情况下,是不能计算过程能力的,而且也没有必要,只是说当你不知道一个过程是否受控,所以一开始就去计算.但这个时候发现不了多少问题.- s# R- M& S2 {* e7 P CPK:Complex Process Capability index的缩写,是现代企业用于表示制成能力的指标。 % B- | k9 }2 e. T8 D* CCPK值越大表示品质越佳。: r3 [ P! {( v4 ^$ t CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s)) , g$ c5 m7 v5 V* {7 Y5 |Cpk——过程能力指数l. ]3 N; D% \) E+ m CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] 1 e+ z/ v5 G# W2 A* ~9 xCpk应用讲议- O4 p$ I# j& t1 l0 E6 Q0 m 1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。 ; I; }4 b. W- Y* n2 S0 W2.同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp. & X% k/ I' Y5 X1 z- i3 uCa:制程准确度。Cp:制程精密度。 0 N; M: ?6 H: [# e& b3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 -|Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)2 X/ v! k- e5 K- w7 C/ l a 4.当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。7 {8 f. |0 h6 h% z 5.计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。 1 F0 A# T; P1 J2 A4 M6.计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。 8 m4 M# g, R' y/ N7 H7.首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u).规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2; 4 e' K5 r- X% {5 Z+ P' [8 U( j8.依据公式: 6 B9 P& [; v% X1 J2 |! |,' K% @) u. o$ N, n3 M H) M5 O 计算出制程准确度:Ca值' ^$ W: J z, u5 n* t 9.依据公式:Cp =,! R/ Y4 N, t8 D% Q6 a 计算出制程精密度:Cp值( g4 k# I" A- ]# X, `9 Y% M/ [ 10.依据公式:Cpk=Cp, ! I" j+ i$ ~% b9 I) C! e' a计算出制程能力指数:Cpk值 9 Z9 z$ P, w: w/ P# J1 z* Q% \' ` * F8 t# C7 \# i* T3 W8 U/ W4. |
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