如图所示,外围尺寸137×127×5左右,多孔材料,照片上不是太清楚,表面比较粗糙,要求测平面度,测量精度到0.01。表面有孔,实际上要测的是诸多高点所构成平面的平面度。量比较大,还要求效率。7 X: T6 u8 @, D+ _' v+ L/ |' b$ T
3 L6 D& @$ V& g0 @8 _0 I3 g0 Z用三坐标试过,慢。是否有这种设备:把工件放好,照一下就可以出数据?6 b( w0 P$ D7 A" ~; P9 B( t
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平晶我问过,说是表面光洁度要求在0.8以内,不适用。! a7 D: Q* P) e0 F4 V
% z: k3 D8 G* U, G9 a还有外形尺寸要求,由于材料易碎,想用投影设备。) g K5 N7 e2 r9 z* p% r3 D+ P: n1 L
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后续的工序还有镀层要测,但基材不导电,无磁性,是否有设备可测,求助。1 j$ @6 {+ d8 \, l4 w, M
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