在测量某一形位公差时,往往会收到另一形位公差的干扰,比如,在测两个圆孔的轴线垂直度的时候,会受到两个圆孔的同轴度的影响,这样虽然能得到垂直度,但是垂直度里面有同轴度的影响,得到的垂直度不是很可信,那应该怎么正确的测量一个受到干扰的形位公差,还有有没有这样一种理论,就是两个形位公差相互干扰时,测得一个值,通过这个值的概率分布,可以得到这个值是同时满足两个形位公差。小弟愚昧,不知道这个问题提的对不对。 T$ V2 G# U7 [4 V) X 小弟刚工作,还需要学习的很多,谢谢给位前辈的支点 |
oldpipe 发表于 2016-8-28 16:22
公差原则第一条——独立原则。尺寸公差与形位公差之间,形位公差之间没有关联关系,各自独立要求。
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36
举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:49; P& Y e" j! x9 n9 _
楼主看了五楼的发言了吗?独立原则啊,平面度测平面度的,平行度测平行度的,不用混为一谈的
轩辕天一 发表于 2016-8-29 06:52, S" X( j4 R: Q( ]
而且两种公差的测量方法不同,只要各自保证满足各自的公差要求即可。
想到了邓的不管白猫黑猫能抓老鼠的 ...
dyq711 发表于 2016-8-28 21:36
举个例子假如我要得到两个面的平行度,肯定是取不同点的两个面的距离,然而这两个面的平面度也有要求,那 ...
oldpipe 发表于 2016-8-29 22:19
就拿你图示的这个例子来说:平行度的概念是:从底面向上移动一个理想的、平行于底面的平面,直到与顶面第 ...
dyq711 发表于 2016-8-29 22:33
那在测平行度的时候怎么找这个理想的平面
寂静天花板 发表于 2016-8-28 12:09( K7 S7 f. s1 m7 z) E; s6 {
两个圆孔有同轴度公差要求,怎么还会有两个圆孔的垂直度要求
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