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标题: 分享一个充电头外观瑕疵检测的新方法 [打印本页]

作者: Q397702008 时间: 2021-12-31 11:27
标题: 分享一个充电头外观瑕疵检测的新方法
最近新搞定的一个案子，通过运动控制来实时调配充电头表面到2D线扫相机的距离成像。
一个线扫相机代替了多个面阵相机。
感觉成本没省多少，效率提高了一些
(, 下载次数: 62)

作者: 我在或不在呢 时间: 2021-12-31 12:32
很有意思，扫描精度咋样？外表缺陷扫描最小可达到丝0.1mm吗？

作者: Q397702008 时间: 2021-12-31 15:26

我在或不在呢发表于 2021-12-31 12:32
很有意思，扫描精度咋样？外表缺陷扫描最小可达到丝0.1mm吗？

目前精度±0.03mm

作者: 远祥 时间: 2022-1-6 03:25
这个精度是高啊

作者: 懿总W5 时间: 2022-1-25 08:34

我在或不在呢发表于 2021-12-31 12:32
很有意思，扫描精度咋样？外表缺陷扫描最小可达到丝0.1mm吗？

笑死人了，原来丝是0.1mm

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